Veröffentlicht: 27. Februar 2020
Kategorie: Gold
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Fehlerstrom-Schutzeinrichtung & Auswahl der Bemessungs-Differenzstromstärke
Lesen Sie jetzt alles zu Fehlerstrom-Schutzeinrichtung, Auswahl der Bemessungs-Differenzstromstärke, Drehrichtung, Funkionsprüfung, Prüfplan & Dokumentation.
Westermann
Fehlerstrom-Schutzeinrichtung & Auswahl der Bemessungs-Differenzstromstärke
Veröffentlicht: 27. Februar 2020 · Kategorie: Gold
Lesen Sie jetzt alles zu Fehlerstrom-Schutzeinrichtung, Auswahl der Bemessungs-Differenzstromstärke, Drehrichtung, Funkionsprüfung, Prüfplan & Dokumentation.
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177 2.9.9 Fehlerstrom-Schutzeinrichtung / Residual current protective device 2.9.9 Fehlerstrom-Schutzeinrichtung Für die Prüfung der RCD sind drei Messgrößen von Bedeutung: • maximal zulässige Berührungsspannung UL • Fehlerstromstärke I∆N (früher IF) • Erdungswiderstand RA Es wird geprüft, ob die RCD innerhalb von 0,2 s (TNSystem) bzw. 5 s (TT-System) allpolig abschaltet, wenn die Berührungsspannung [touch voltage] den Grenzwert von 50 V AC überschreitet. Zunächst müssen durch eine Besichtigung die Kriterien nach Abb. 3 in Abhängigkeit vom jeweiligen Verteilungssystem überprüft werden. Bei der anschließenden Erprobung wird durch Betätigung der Prüftaste [test button] die Funktion der RCD getestet. Diese Prüfung gibt jedoch keinen Aufschluss über die ordnungsgemäße Funktion der Schutzmaßnahme, da lediglich ein geräteinterner Prüfstrom die RCD auslöst. Neben der Niederohmmessung (s. Kap. 2.9.4) und der Isolationsmessung (s. Kap. 2.9.5) müssen zusätzlich die Berührungsspannung UL∆N bezogen auf die Bemessungs-Differenzstromstärke I∆N der RCD sowie die Auslösezeit gemessen werden. Auswahl der Bemessungs-Differenzstromstärke Maximalwert für I∆N Anwendung – Beleuchtungsanlagen – Räume mit Badewanne oder Dusche – Experimentierräume – Feuchte und nasse Bereiche – Zusätzlicher Schutz bei direktem Berühren in Wohnungen – Feuergefährdete Betriebsstätten – Ersatzstrom-Versorgungsanlagen – Baustromverteiler Verteilungssystem TN-System Prüfkriterien bei der Besichtigung RA ≤ U0 I∆N RA:...
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